ソフトウェアベース高速画像検査・計測システムの開発

片渕 典史; 田中 弘一; 大原 秀一; 佐野 睦夫; 奥平 雅士

doi:10.11371/iieej.31.553

論文

ソフトウェアベース高速画像検査・計測システムの開発

片渕典史, 田中弘一, 大原秀一, 佐野睦夫, 奥平雅士

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キーワード: 検査・計測, パラメトリックテンプレート, サブピクセルマッチング, 動的2値化, シーケンスファイル

ジャーナルフリー

2002 年 31 巻 4 号 p. 553-562

DOI https://doi.org/10.11371/iieej.31.553

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抄録

工業部品の外観検査や寸法計測において，良品・不良品の形態にばらつきがあっても規準画像とのマッチングや良否判定検査等を高速かつ高精度に行う画像検査・計測装置を開発した．本装置では，新技術のパラメトリックテンプレート法による高速サブピクセルパターンマッチング機能，ロバストな識別機能，優れた操作性などを実現した．本システムを用いれば，汎用のパソコンと市販の画像入力ボードの組み合わせで安価なコストで検査アプリケーションを構築でき，検査員による検査ミスや見落としを削減することが可能となる．

責任著者(Corresponding author)

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