均一表面物体の移動量計測を目的とした高精度画像照合手法

抄録

本稿では，濃淡やテクスチャが均一な表面をもつ物体の移動量を精度よく計測するための照合手法を提案する．提案手法では，注目画素周辺の濃淡の分布から得られる空間的な特徴量を用いて照合する．濃淡画像の局所領域の画素値から相関係数を求め，特徴量画像に変換することで，均一表面であっても安全に照合を行う．実験結果は，均一表面物体において従来手法よりも精度よくかつ高速に移動量を計測できることを示しており，工業の分野においても有効であると考えられる．