Imaging Today
誘導電流検出式表面電位計X1の開発
2023 年 62 巻 3 号 p. 231-238
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2023 年 62 巻 3 号 p. 231-238
電子写真技術の感光体廻りの重要プロセスである帯電，露光，現像，転写，除電において，その中心に位置する感光体の表面電位を正確に計測することは，画像形成プロセス設計において非常に重要である．さらに高速化，高画質化の技術課題解決においては高応答性や微小領域における表面電位計測の性能向上が求められている．光誘起電位減衰曲線 (photo-induced discharge curve, PIDC) 測定やX-TOF (xerographic time of flight) 測定による電荷減衰過程の分析を行う上で表面電位計測時の応答性の向上は感光体内部での電荷生成や移動のメカニズムの解明に大きく寄与する．弊社では，電子写真プロセス開発者の上述したニーズに応えるべく各種計測機，高電圧供給装置，感光体プロセスシミュレーターなどを開発し提供してきた．本報では弊社が製造・販売している計測機器を概観した後，高精度，高応答性を実現した誘導電流検出式表面電位計X1シリーズの技術説明と応用展開について解説する．
