抄録
表面配向力の定量的評価は液晶の物性の研究や応用上重要であるが配向力がある程度強い場合には適当な測定法が無かった。そこで本研究では相転移ドロプレット法を提案し、ラビングによる表面秩序度の評価が可能であることを示した。相転移ドロプレット法では配向力が非常に強い場合から弱く不均一な配向までの幅広い範囲の評価ができることが明らかになった。また、ラビング無しの状態から強くラビングすることによって表面秩序度が増加すること、ラビング無しでは基板に対して方位角方向にグイレクターが不均一であっても表面秩序度がある程度の値を示す場合があり、極角方向の表面秩序が高いことを示すことなどが明らかになった。
