Y_2O_2S:Eu^<3+>蛍光体の2波長励起フォトルミネッセンス(発光型・非発光型ディスプレイ合同研究会)

抄録

Above-Gap励起光(AGE, hν_A>Eg)、Below-Gap励起光(BGE, hν_B<Eg)を試料に照射し、BGE照射によるフォトルミネッセンス(PL)強度の変化を測定する2波長励起PL法により、禁制帯内準位の定量評価を進めている。Y_2O_2S:Eu^<3+>蛍光体試料において、BGE照射によるEu^<3+>の過渡的なPL(輝尽)を観測し、そのEu^<3+>添加濃度依存性を調べた。その結果、検出された準位はEu^<3+>添加ではなく、母体欠陥に起因することが示された。