抄録
大規模SoCのチップ内部を多点観測するオンチップモニタシステムを提案する。オンチップモニタ回路はチップ内の対象信号をオンチップでデジタイズする複数の検出フロントエンドと、検出フロントエンドのデジタル出力列を処理するデータ処理ユニットで構成される。バックエンドデータ処理系と統合しプロトタイプを構築した。本研究では、オンチップモニタの性能指標として、(1)波形取得アルゴリズム適用による測定速度および(2)モニタシステムの線形性の評価を行った。その結果、波形取得アルゴリズムにより測定速度は従来手法と比較して92.2%削減され、線形性評価においてサンプリングレート200MHz、有効帯域を25MHzとした場合、SNDRで51.5dB、SFDRで59.1dBとなり、モニタシステムの有効ビット数8.2bitを実現した。
