応用統計学
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判別空間における測定値のベクトル平面への正射影
橋口 渉子
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1978 年 7 巻 1 号 p. 23-32

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抄録
線形判別関数易BPt=λtWptにおいて,ベクトルpi(i=1,2,…)は斜交であるため,適用に際してp1およびp2を座標系として判別評点の散布図を画くのは容易でない.しかしその散布図とは,p1とp2の張る平面S上への,各測定値の正射影を示すものである,したがって,p1,p2を座標系にする必要はなく,おなじ平面Sを張るベクトル系のうち,互に直交するものを座標系として選ぶことができる.このとき,選んだ各ベクトルへの測定値からの正射影の長さが把握されればよい.ここでは,直交座標系のベクトルとしてp1とq2(あるいはp2とq1)を用いることを提案した.q1,q2とは,ベクトルWp1,Wp2のS上への正射影である.さらに,ベクトルWptのもつ性質について若干の考察を行ない,適用の場におけるその重要性を指摘した.
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