光再構成ゲートアレイにおける故障回避

抄録

近年、再構成デバイスが広く使われ、動的再構成にも注目が集まっている。本研究室では、再構成データを光によりパラレルに転送することで高速再構成が可能な光再構成ゲートアレイを開発中である。 再構成データのパラレル転送による効果として、故障に対する回避能力にも期待が寄せられている。本稿では、このLSIの製造不良への耐性を明らかにすることを目的とし、内部の回路要素であるLook Up Tableにおける単一縮退故障に焦点をあて、故障を逃れるPhoto Diodeパターンの考察を行う。