2025 年 71 巻 1 号 p. 1-5
video Head Impulse Test(vHIT)を用いて外側半規管形成不全の 5 例 10 耳において半規管機能評価を行った。従来は温度刺激検査で半規管機能は評価されていたが vHIT で評価されている例は少ない。また、前庭症状や眼振がない場合でも、温度刺激検査で半規管機能低下を示す症例が報告されている。vHIT では 10 耳中 9 耳で正常所見を呈したが、温度刺激検査では低下を示す症例を認めた。両者の結果の乖離の理由として、外側半規管形成不全によって管腔が形成されておらず内リンパ腔が拡大することで、vHIT のような回転検査とは対照的に、温度刺激検査では局所的な対流のみでクプラを偏位させる対流が起きず反応が出ない可能性が考えられる。