FCR(ST-III, 100μmサンプリングモード)および増感紙-フィルム系(QFD/10)のNEQ(u)を測定した.FCRのNEQ(u)の低周波部分は, 照射線量の違いにより大きく変化する.また同じ照射線量であれば, 低周波域においては両者とも同じNEQ(u)値であるが, 3cycles/mm以上では, FCRよりもQFD/10の方が高い値である.なお, このようにディジタル系に, NEQ(u)のようなアナログ系の画像評価法を用いる場合, エリアシングエラーが非常に少ない系であることが条件となるために, その適用には十分な考慮が必要である.
