2006 年 56 巻 3 号 p. 114-119
特許審査における被引用(Forward Citation)の回数は,重要特許ほど多いという実験データを示した。次に,米国特許において最も被引用回数の多いものを示し,その特徴をのべた。また,特許1件当たりの被引用回数(インパクト指数)により,企業ごとの特許の質を示し,さらに重要特許がどのような企業にいつ頃,被引用されているのか分析可能なFCA(Forward Citation Applicant)マップを示した。また,半導体と磁気ヘッドに関して被引用データによって企業比較を行い,M&Aなどの参考資料にも役立つことを示した。