ArガスクラスターイオンによるLIB負極上のSEI被膜のXPS深さ方向分析

抄録

LIB(Lithium Ion Battery)はモバイル機器や電気自動車など様々なところで用いられている．LIBの電池性能は，負極上に生成されるSEI(Solid Electrolyte Interphase)被膜に大きく左右される．SEI被膜は初回充電時に，負極上にナノメートルオーダーの厚みで生成されることが知られている． SEI被膜はLIBの充放電に必要不可欠なものであるが，必要以上に厚みが増すと電池性能の低下につながる．このため，LIBのさらなる性能向上には，SEI被膜の構造を解析し，SEI被膜を制御することが重要である．本稿では，LIBグラファイト負極表面に生成されたSEI被膜をArガスクラスターイオンで深さ方向に分析した事例を紹介する．また，同一試料をAr単原子イオンで深さ方向に分析した場合に生じる，SEI被膜の構造破壊についても事例を紹介する．