土壌構造評価のための軟 X 線画像法 ―ガラスビーズおよび砂の粒径測定―

抄録

筆者らが新たに開発した軟 X 線画像法による土壌の粒度分布測定の足掛かりとするため , ガラスビーズおよび砂に対して軟 X 線画像法による画像解析を行い , その解析結果と試料粒径との関係について検討した . その結果 , 試料粒径とその軟 X 線画像の画素濃度の標準偏差との間には密接な関係があり , この関係を用いることで軟 X 線画像法による粒径測定ができることを示した . また , その際には , 試料の粒径の大きさに応じて必要とする画像の大きさがあることを明らかにした .