繊維状高分子の構造解析

抄録

繊維状高分子のX線回折測定に放射光を用いることにより,回折像のS/N比が上がり強度データの質と量の向上が期待できる。本稿では,放射光を利用して収集した精度の高い繊維回折データに基づいた高分子の結晶構造解析に関する最近の研究成果について,筆者らの研究も含め紹介する。