日本鉱物学会年会講演要旨集
日本鉱物学会2004年度年会
セッションID: k05-03
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走査近接場光学顕微鏡(SNOM)の製作と鉱物学への応用の可能性
*鍵 裕之福良 哲史角森 史昭中川 達央粉川 良平浅利 正敏
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抄録
走査近接場光学顕微鏡(SNOM)は、従来の光学顕微鏡とは異なり、結像のためにレンズを使わない光学顕微鏡である。SNOMは近接場光と呼ばれる、エネルギーが試料表面に沿ってのみ伝播する光(エバネッセント波)を利用する光学顕微鏡で、理想的には20nmという超高分解能を得ることが可能である。SNOMがその他の微小構造解析装置(TEM・SEM・AFM etc)と異なるところは、試料表面の凹凸形状に加えて、試料表面からの蛍光・ラマン光を超高分解能で得られるところにある。例えば、Narita and Murotani(2002)では多結晶ルビーの粒間の蛍光スペクトル変動・圧力分布イメージングが報告されている。しかし、SNOMは装置由来の蛍光が強く、蛍光の弱い試料の測定には、測定法の改良が必要である。本研究では、SNOMの高分解能分光を地球科学試料に適用可能にし、多結晶間の歪み、微小な包有物の状態測定、物質の酸化状態の2次元イメージングなどを測定することを目標としている。
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© 2004 日本鉱物科学会
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