マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第24回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第24回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
組込み型電気検査回路によるICのピン浮き検査可能性実験
*梅津 翔一, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
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p. 375-378

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© 2014 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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