マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
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主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
エレクトロケミカルマイグレーション（ECM）による劣化現象を通して考える信頼性評価の在り方
*津久井 勤
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p. 205-210

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