マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
電子パッケージのひずみ計測への位相シフトサンプリングモアレ法の適用
*小金丸 正明, 松本 光気, 内野 正和, 池田 徹
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p. 227-230

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