マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
無電解Ni-P/電解Cuめっきが高温環境下のはんだ接合信頼性に及ぼす影響
*大矢 怜史, 中木原 早紀, 朴 潤烈, 高橋 政典, 芳片 敏之, 新子 比呂志
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p. 243-246

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