マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
はんだ接合部エレクトロマイグレーション故障時間に与えるSn結晶方位の定量化
*渡邉 英之, 酒井 翼, 瀬井 翼, 野口 真男, 山中 公博
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p. 25-28

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