マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第30回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第30回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
疲労き裂進展則を用いたAgナノ粒子焼結体の疲労き裂発生寿命則導出
*大崎 滉二, 苅谷 義治, 師岡 弘一, 水村 宜司, 佐々木 幸司
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p. 17-20

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