マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第30回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
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第30回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
薄膜有機トランジスタ用ゲート絶縁層の機械的負荷下での絶縁性能評価
*日髙 功二, 小金丸 正明, 関根 智仁, 宍戸 信之, 神谷 庄司, 三成 剛生, 池田 徹, 時任 静士
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p. 95-98

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© 2020 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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