マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第32回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第32回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
電力半導体ダイアタッチ部における疲労き裂ネットワーク損傷率と熱抵抗の関係
*金井 宏喜, 苅谷 義治, 三須 俊幸, 越智 光樹, 花田 隆一郎, 出尾 晋一
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p. 107-110

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