マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第32回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第32回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
SiC-MOSFETのボディダイオードを利用した高温パワーサイクル試験
*加藤 史樹, 安藤 拓司, 佐藤 弘
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p. 269-272

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