4．拡大内視鏡診断，微細診断の進歩―超拡大内視鏡EC分類―

工藤 進英; 笹島 圭太; 井上 晴洋; 浜谷 茂治; 石田 文生; 大塚 和朗; 池原 伸直; 工藤 由比; 樫田 博史; 請川 淳一; 山村 冬彦; 渡辺 英伸

doi:10.2169/naika.96.252

II．診断

4．拡大内視鏡診断，微細診断の進歩―超拡大内視鏡EC分類―

工藤進英, 笹島圭太, 井上晴洋, 浜谷茂治, 石田文生, 大塚和朗, 池原伸直, 工藤由比, 樫田博史, 請川淳一, 山村冬彦, 渡辺英伸

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キーワード: 拡大内視鏡, pit pattern, Endocytoscope, Endocytoscope分類（EC分類）

ジャーナルフリー

2007 年 96 巻 2 号 p. 252-265

DOI https://doi.org/10.2169/naika.96.252

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抄録

　1993年，拡大電子スコープが開発されI～V型のpit pattern　分類は組織・病理所見と良く対応し，腫瘍・非腫瘍の鑑別並びにsm深部浸潤の指標となった．さらに，超拡大電子スコープendocytoscopeが登場し，構造異型のみならず細胞異型まで生体内で観察可能となった．超拡大0～3型に分けられるendocytoscope分類，EC分類は生体内で細胞レベルでの病理組織に対応し，より正確な診断がなされる．

責任著者(Corresponding author)

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