抄録
副腎機能低下症の原因には，原発性と続発性副腎機能低下症がある．続発性の原因には，視床下部性と下垂体性があり，原発性を含めた原因局在の決定のため負荷試験が有用である．一般的には，現在，corticotropin-releasing hormone（CRH）負荷試験とインスリン低血糖刺激試験（ITT）が行われることが多い．原発性副腎皮質機能低下症は，ACTH試験によって副腎皮質の予備能の低下を証明する必要がある．ストレス時の副腎皮質の予備能を評価しておくことは，副腎クリーゼ予防に重要である．それぞれの検査の意義を良く理解した上で，安全に行われるのが望ましい．
