抄録
高分子固体の表面構造および表面分子運動を解析するための手法について解説した。温度依存X線光電子分光 (TDXPS) 測定に基づき対称ジブロック共重合体の表面分子鎖凝集状態の再編成の解析を行ない, 表面のTgがバルクのTgに比べて著しく低下していることを明らかにした。一方, 動的二次イオン質量分析 (DSIMS) を末端基をラベルしたポリスチレン (PS) 固体膜の深さ方向の化学組成の評価に用い, PS固体膜表面における分子鎖末端基の局在化を明らかにした。走査粘弾性顕微鏡 (SVM) を高分子固体表面の力学的性質の評価に用い, 表面の力学的損失正接値がバルクに比べて高い値を示すことを明らかにした・SVMとDSIMSの測定結果よりPS固体膜表面の分子運動が末端基の表面濃縮により活性化され, 表面のガラス転移温度, Tgがバルクに比べて低下していると結論できた。さらに, SVMによるナノメータースケールでの粘弾的性質のマッピングに基づきポリマーブレンド薄膜の2次元の相分離状態を明らかにした。
