アモルファス希土類遷移金属合金垂直磁化膜のスペリ磁性

−軟X線MCD測定をプローブとして−

抄録

アモルファス希土類遷移金属合金垂直磁化膜は，次世代の超高密度記録媒体として有望な材料である．効率的に媒体開発を行うためには，その材料の基礎的な磁性を理解することが重要である．軟X線磁気円二色性は，元素ごとおよび軌道ごとに，フェルミ準位近傍の非占有準位の電子状態・スピン状態を調べるのに有力なプローブである．この系に特徴的なスペリ磁性が，そのスペクトルに与える影響を紹介する．