NTT物性科学基礎研究所
2010 年 79 巻 10 号 p. 920-924
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単層CNTは数eV〜数十keVの粒子の照射により損傷を受ける(低エネルギー照射損傷).このため,電子線や真空紫外線などを用いる分析手法を利用する際には,損傷の発生について注意が必要である.本稿では,この低エネルギー照射損傷の特徴や生成する欠陥の性質について述べる.また,生成された欠陥によって電気特性に現れる金属 -半導体転移について紹介する.
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