最近の展望
X線タイコグラフィによる転位ひずみ場の可視化とX線渦ビームの形成
2014 年 83 巻 5 号 p. 366-370
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2014 年 83 巻 5 号 p. 366-370
バルク試料に埋もれたナノメートルスケールの転位ひずみ場を高分解能で可視化することが，転位の構造研究の1つの課題である．我々は，コヒーレントX線回折イメージング技術を駆使することで，シリコン単結晶中の転位ひずみ場を数十nmの空間分解能で可視化できることを実証した．また，可視化した位相分布を参照し，位相特異点に集束したコヒーレントX線を照射することで，回折波にマイクロX線渦ビームが形成され，その軌道角運動量を自在に制御できることを見いだした．X線渦ビームは，3d遷移金属の双極子遷移と4重極遷移を識別するX線吸収分光など，さまざまな応用の可能性を秘めている．
