応用物理
Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009
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電子衝突断面積推定／EUV光源プラズマ計測・制御／SiC-MOSFET／イメージング物理／シリコン量子ビット／有機半導体レーザー
『応用物理』編集委員会
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2020 年 89 巻 5 号 p. 252

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