抄録
YSZ(3 mol%)原料粉を、一軸加圧による成形後、焼結し焼結体（直径10mm、厚さ1mm）を作製した。焼結体を白金板で挟み、200℃に保持しながら30分間直流電圧(2~1000V）を印加した。電圧は試料が室温に低下するまで維持した。試料を湿潤環境下120℃に保持した後、表面の結晶構造をXRDにより評価した。XRD結果より、単斜晶の生成比率を計算した。印加電圧上昇とともに正電荷、負電荷誘起面ともに生成量が減少した。特に、N面では顕著な生成量の低下が見られた。この結果は、分極処理による表面の水の濡れ性の変化と同様な傾向であった。
