ダイナミック・ストークス偏光計を用いた実時間複屈折分布計測法

抄録

近年、高機能高分子材料の製造時における内部構造変化を動的な2次元複屈折としてとらえたいという要求が増加している。現在まで様々な計測手法が既に提案されているが、動的かつ2次元の要求を満たす装置は報告されてない。本研究では隣接画素に異なる方位の偏光子を実装した高速エリアセンサを用い、ストークス偏光計のアルゴリズムを提案し，これらにより従来比100倍の計測速度実現性を実現したので報告する。