精密工学会学術講演会講演論文集
2012年度精密工学会春季大会
セッションID: F34
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周波数領域蛍光法を用いたナノ粒子粒径評価に関する研究(第一報)
ブラウン粒子の回転相関時間計測システムの開発
*LEE KOK FOONG林 照剛道畑 正岐高谷 裕浩
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抄録
100nm以下のナノデバイスを作製するために、分子スケールから構造化するbottom-up方法はよく研究されている。Bottom-up方法では、ナノ粒子は非常に重要な基礎要素であり、そのサイズや形状はデバイスの性能に大きい影響を与える。ナノ粒子の品質を確保するために、粒径評価方法が要求されている。この研究では、周波数領域蛍光法を用いた粒径評価方法を提案した。ブラウン粒子の回転相関時間計測システムを開発し、基礎研究を行った。
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© 2012 公益社団法人 精密工学会
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