X線回折格子を用いたX線自由電子レーザーナノビームのシングルショット波面計測

抄録

近年、フォトン密度の高いビームを得るために、X線自由電子レーザー(XFEL)集光の研究が精力的に進められている。XFELで行われる実験は、ショット毎にX線が集光されていることを保障することが求められる。そこで、XFEL集光ビームの状態を保障する計測法として、Talbot効果を利用したShearing干渉計を用いることを考案したので、その件について今回報告する。