精密工学会学術講演会講演論文集
2014年度精密工学会春季大会
セッションID: H25
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大気圧VHFプラズマにより低温下(60-120℃)で形成したSi薄膜の構造及び電気特性評価
*坂口 尭之岡村 康平林 威成山田 高寛大参 宏昌垣内 弘章安武 潔
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抄録
アモルファスSi(a-Si:H)や微結晶Si(μc-Si:H)は,薄膜トランジスタや薄膜Si太陽電池などの,種々の薄膜デバイスにおいて非常に重要な材料である.本研究では,大気圧下におけるVHF(very high-frequency)励起プラズマを用いたa-Si:Hおよびμc-Si:H薄膜の低温・高速成膜技術の開発を行っている.今回,形成したSi薄膜の特性評価を行うとともに,膜の結晶化や特性に及ぼすプラズマパラメータの影響について検討した.さらに,形成したSi薄膜を用いて薄膜トランジスタを作製し,その電気特性を評価した結果について報告する.
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© 2014 公益社団法人 精密工学会
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