精密工学会学術講演会講演論文集
2016年度精密工学会秋季大会
セッションID: B19
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ルート法偏光解析を導入した分光ミュラー行列顕微鏡
*堀口 智央大谷 幸利
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抄録
これまでの物質の偏光特性を測定する代表例に偏光顕微鏡がある.しかし,従来の偏光顕微鏡での測定では,偏光特性の定量化がしにくく,散乱光まで考慮することが困難であった.そこで,本研究では物質の偏光特性を表す4×4のミュラー行列を用いて偏光特性を定量化する.又,ミュラー行列にルートデコンポジション法を施すことで,偏光解消のパラメータを分離し,精度よく偏光特性パラメータを求めることができる.
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© 2016 公益社団法人 精密工学会
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