多層膜KBミラーを用いたX線自由電子レーザーナノ集光システムの開発

波面計測法とビームキャラクタリゼーション法の検討

抄録

X線自由電子レーザーは超高ピーク強度を有しているが，さらに高光子密度を実現するには集光技術が必要不可欠である．X線集光素子が作る集光波面を正確に計測し，適切に改善できれば理想的な集光が実現できる．我々は，グレーチング干渉計を用いた精密波面計測法の検討を行った．また，形状修正したミラーによる集光ビームのプロファイリング法として，小角散乱や過飽和吸収を利用した手法を検討した．