テラヘルツ波を用いた樹脂内部残留応力評価システム開発に向けた研究

抄録

先行研究では樹脂内部残留応力計測を目的としてテラヘルツ時間領域分光法（THz-TDS）を用い，THz波の吸収係数の偏光度が他の既存手法で測定した残留応力と相関があると示した．本研究の目的は，連続な差周波光源を用いて発生させたテラヘルツ波の吸収係数の偏光度から残留応力を計測するシステムの開発である．本稿では，上記システム開発のための基礎実験として実施したTHz-TDSとX線回折による配向計測について報告する．