九州工業大学
2009 年 31 巻 7 号 p. 514-519
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VLSIの高機能化と高性能化,また製造プロセスの微細化とともに,性能の劣化現象が着目されている.システムに組み込まれたVLSIがフィールドで性能劣化を進行させる中で,その劣化を事前に検知し,障害発生による事故を予防することが重要な課題となりつつある.本論文ではVLSIの劣化に着目して,システムの高信頼化を実現するアプローチについて,最新の研究開発動向を解説・展望する.
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