システム制御情報学会 研究発表講演会講演論文集
第52回システム制御情報学会研究発表講演会
セッションID: 4S4-1
会議情報

超解像処理を用いた画像処理計測技術
*植木 章太上田 泰広中井 博之重山 吉偉
著者情報
キーワード: 超解像, 画像検査
会議録・要旨集 フリー

詳細
抄録
本研究では検査装置において複数の低解像度画像から十分な解像度を持つ高解像度画像を生成する超解像処理の適用により高精度化と自動化を目標としている。検査装置において検査を安定に行うためには、検査感度を向上させる必要がある。そこで、本論文において高解像度画像と同時にノイズ成分を推定することにより、ノイズを低減させる超解像処理を提案し、提案手法を実装した場合の欠陥検査性能について報告する。
著者関連情報
© 2008 システム制御情報学会
前の記事 次の記事
feedback
Top