蛍光Ｘ線吸収分光のラウンドロビン測定による低濃度試料の検出限界の検討(その2)

抄録

　10 ppm 以下の標準希薄試料の蛍光 XAFS 測定方法について検討した。半導体検出器のようなエネルギー選択性がある検出器を用いた場合においても、Ｘ線蛍光測定用フィルターのようなエネルギー選択性があるアッテネータで弾性散乱を除去することの有用性を検証した。