Dy-Fe-B 薄膜の硬Ｘ線光電子分光と Dy 3d XPS の偏光依存性測定の試み

抄録

　Dy-Fe-B 薄膜の電子状態を解明するために硬Ｘ線光電子分光(HAXPES)を行った。キャップ層が Mo 層 3 nm であるとき、その下の Dy-Fe-B 層は酸化されていないことが、Fe 2p XPS から示唆された。Dy 4f 電子が受ける結晶場を反映してDy 3d XPSの多重項構造の強度比が偏光依存性を示すと考えて、その検出を試みたが有意な偏光依存性は観測されなかった。