マイクロビーム XAFS による (K,Na)NbO₃ 粒子に固溶した Mn の価数評価

抄録

　(K,Na)NbO₃[KNN] 圧電セラミックスは還元焼成すると低抵抗化や部品短寿命化が起こる。添加 Mn はこの不具合改善を担うと考えられ、その化学状態についてマイクロビーム XAFS による評価を行っている。本課題では約 0.1 μm 角の集光ビームで評価した結果、KNN 粒子に固溶した Mn 価数が一様であることが示唆された。また、試料間でも Mn 価数に差がなく部品寿命の違いを説明するためには Mn 価数以外の要因を考える必要がある。