三次元走査型光電子顕微鏡を利用した微粒子光触媒の電子状態の解析

抄録

　三次元走査型光電子顕微鏡を用いて半導体微粒子光触媒の電子状態を解析した。個々の光触媒粒子の価電子帯スペクトルの計測からフェルミレベルを評価可能であったが、ほぼ全ての測定点で光触媒粒子間から露出した Au 片のシグナルが重複した。コアレベルのシフトからは、水素生成や水分解反応に高活性な光触媒ではフェルミレベルが貴な電位にシフトしていることが示唆された。多くの試料を系統的に解析することで、試料の帯電の影響を排除し、フェルミレベルと活性との相関を定量的に解明できる可能性がある。