サンビームにおける硬Ｘ線 XAFS ラウンドロビンテスト結果

抄録

　SPring-8 の産業用専用ビームライン BL16B2 において、光ビームプラットフォーム事業で進められた硬Ｘ線 XAFS ラウンドロビンテストと同じ試料を借用して測定し、他施設およびビームラインで得られたデータと比較した。5 keV から 30 keV 程度の広い範囲にわたって、良好なスペクトルを取得可能であり、他のビームラインと同等レベルの XAFS 測定ができることを確認した。