軟Ｘ線小角散乱を用いた高分子コアシェル構造を有するナノ粒子の粒径および粒径分布解析

抄録

　ポリスチレン/アクリレート系高分子で構成される高分子コアシェル粒子の構造を、軟Ｘ線小角散乱を用いて評価した。アクリレート系高分子中のカルボニル酸素に対する吸収が異なるエネルギーの軟Ｘ線を入射することで、散乱プロファイルに差異が見られた。今回の実験では、硬Ｘ線 SAXS ではコントラストがつけにくい有機コアシェル構造でも、軟Ｘ線光源を使用することで、より詳細な構造解析が可能となることが示唆された。