斜入射X線回折法によるペンタセン薄膜の構造解析

抄録

有機薄膜（ペンタセン）の蒸着膜形成過程における、成長初期（基板界面）と後期（有機膜表面）での周期構造や分子配向を解析するため、放射光による高輝度X線を用いた回折測定を行い、ペンタセン薄膜の散乱回折パターンを得た。解析の結果、ペンタセン分子はガラス基板上で垂直配向するが、75 nm以上の薄膜では、表層付近にバルク相に帰属される回折ピークが新たに検出された。