抄録
シリコーン粘着剤を用いて,プローブタック,動的粘弾性,パルス法NMRの測定を行ない,緩和スペクトルと動的粘弾性からタックの挙動解明を試みた。緩和スペクトルの解析結果からプローブタックの値はタッキファイヤの役割をするMQレジンの量,特にハードセグメント中に存在するMQレジンの量に依存することが明らかになった。このMQレジンの効果を接触過程と剥離過程に分けて解析するために,DMA測定を行った。接触過程でE'が10⁵Paになる温度を,WLF式により,プローブタック測定時の温度に換算した。また剥離過程では,プローブタック測定温度は,DMA測定では-70℃ほど低温に相当しており,温度が上昇すると,E'は単調に減少している。すなわち剥離過程から見ると,タックは低温ほど値が大きくなる。接触過程と剥離過程を合わせるとプローブタックは10⁵Paを示す換算温度で最大値を示すことになる。これはプローブタックの測定結果とよく一致している。