従来、岩石中に存在する微小な有機物の測定には、STXM-XANES、AFM-IRなどの顕微手法が使用されてきた。これらは、有機物の持つ官能基や化学種形態についての情報を得ることができる一方、煩雑な試料加工が必要なため、効率的にデータを取得することが困難であった。電子顕微鏡と軟X線検出器(SXES: Soft X-Ray Emission Spectrometer)で構成されるシステムは、有機物の微細組織観察とそれらの官能基や化学種形態、そして周囲の鉱物との組織的関連性の理解に寄与することが期待されている。本研究は、岩石研磨試料に対し、鉱物学的記載と並行してEPMA-SXESを用いた有機物のその場測定手法の開発を目指す。ここでは、複数の有機物標準物質を分析し、検量線法によるN/C比の測定結果を報告する。
